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图像影像尺寸一键测量仪，中图仪器VX3000闪测仪
类型 : |
白光干涉仪 |
品牌 : |
中图仪器 |
型号 : |
SuperView WX100 |
产品别名 : |
白光干涉仪 |
是否库存 : |
是 |
是否批发 : |
是 |
外形尺寸 : |
（230x200x380）mm |
水平调整 : |
±2°电动 |
可测样品反射率 : |
0.05%~100% |
粗糙度RMS重复性 : |
0.01nm |
一、产品简介
SuperView WX 100 白光干涉测头是一款非接触式精密光学测头，其基于白光干涉和精密扫描研制而成，主要由光学干涉系统和 Z 向扫描系统组成，具有体积小、重量轻、便携的特点，能够方便地搭载在各种具备 XY 水平位移架构的平台上，在产线上对器件表面进行自动化形式的测量，直接获取与表面质量相关的粗糙度、轮廓尺寸等 2D/3D 参数。
二、产品功能
1、测量功能：能够实现样件表面的高精密 Z 向扫描，获取 3D 图像；
2、分析功能：能够获取关于表面质量的粗糙度、微纳级别的轮廓尺寸等 2D、3D 数据；
3、编程功能：支持预配置数据处理和分析工具步骤，一键完成测量到分析全过程；
4、批量分析：可根据需求参数定制数据处理和分析模板，针对同类型参数数据实现一键批量分析；
三、应用领域
对各种产品、部件和材料表面的粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。
四、性能特色
1、 便携可搭载
独特悬臂式结构，可方便地搭载在各类龙门架构水平位移平台上，通过软件接口的连接，即可构成一台可自动测量的超高级精度的光学 3D 表面轮廓仪；
2、 复合型扫描算法
结合了 PSI 相移法高精度和 VSI 垂直法大范围的双重优点的扩展型相移扫描重建算法，能够适配从超光滑到粗糙、光滑弧面等所有类型样品，一键扫描，无须切换算法；
3、 防撞保护功能
Z 向防撞传感器，当镜头碰到样件表面，进入紧急停止状态，不再下移；
五、技术指标
六、产品配置清单
1) SuperView WX 100 测头；
2) 影像系统：1024×1024；
3) 干涉物镜：10×；
4) DELL 品牌电脑（显示器）
5) 中图 W1 光学 3D 表面轮廓仪软件；
6) 仪器配件箱
7) 软件使用说明书
8) 产品合格证、保修卡
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