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采通通 第3年
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陕西天士立科技有限公司

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热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口_热阻抗_热特性_瞬态稳态热阻Kcurve/Rth/Zth

其他温湿度仪表产品天士立ST-HeatX热阻测试,欢迎选购!

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≥1 套
可售量
99 套
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加工定制 :
是
品牌 :
天士立
型号 :
ST-HeatX
测量范围 :
-35℃~180℃
产品详情
Product details

热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口。产品符合JESD 51-1、JESD 51-14标准,可输出结构函数,用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多种类型功率器件及其模组的_热阻抗_热特性_瞬态热阻_稳态热阻_Kcurve_Rth_Zth_热结构分析


ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

 

ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的产品特点

超高精度:温度(T;)分辨率0.01℃℃,1MHz变频采样:

技术领先:第三代瞬态热测试技术,可输出结构函数进行热结构分析

行业领先:具备4路高速高精度采集模块,采样速度,精度均达到行业D尖水平

架构领先:采用B/S架构控制系统、可远程对设备进行状态监控和控制,实现智能化;

瞬态监测:连续采集加热和冷却区的结温变化,同步采集温度监控点数据;

NPS技术:同步采集温度监控点(NTC/PTC)和结温数据,形成数据关系矩阵。

ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的应用场景

器件结壳热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

Die-Attach热阻测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

DBC/AMB基本热特性测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

界面热阻测量与分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

PCB板级散热结构分析ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

散热器性能测量ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

TIM材料热导率测试ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

热缺陷检测ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统  

ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“功能指标”


产品品牌

天士立


产品型号

ST-HeatX


产品名称

半导体热特性测试系统


主要功能

适用于多种类型功率器件及其模组的瞬态热阻抗、热结构分析、结构函数输出


试验对象

DIODE、MOSFET、IGBT/IGCT、HEMT、GTO、IC


试验标准

符合JESD51-1、JESD51-14、IEC 60747-8、IEC 60747-9、IEC 60747-15、IEC 60749-23、IEC 60749-34、AEC-Q101、AQG 324等相关标准要求


试验模式

DIODE模式

SAT模式

IGBT模式

RDSON模式

HEMT模式


门控电源

数量 4

输出方式 隔离输出

输出范围 -10V ~ 20V

输出误差 ≤0.1V + 0.5%set

分辨率 0.01V


NTC/PTC

数据同步

采集

NTC测量范围 250kΩ 〜 100Ω

PTC测量范围 100Ω 〜 250kΩ

最高采样频率 1MHZ

同步时间误差 ≤1μs


栅极漏电

测量

量程分辨率1nA ~ 850nA@0.01nA

量程分辨率850nA ~ 1mA@0.01uA


加热电源

量程 30A / 10V

电流输出误差 ≤0.05A + 0.1%set

电流设定分辨率 0.01A

开关速度1μs


测温电流源

(主)

量程 ±0.1A ~ ±1A / 10V

分辨率 1mA

误差 ≤2mA + 0.5%set


测温电流源

(辅)

量程 0 ~ 100mA / 10V

分辨率 0.01mA

误差 0~10mA ≤50μA + 0.5%set

误差 10 ~ 100mA ≤0.5mA + 0.5%set


测量通道

数量 4

动态电压测量范围 ±5V(差分模式)

动态电压测量误差 ≤1mV + 0.5%set

动态电压量程 100mV、200mV、400mV、800mV

动态电压分辨率 1.6μV

采样频率 最高1MHz

采样模式 连续变频采样

ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“温度系数标定” 

 


ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统的“瞬态热测试”

 

 

四、数据处理与输出

4.1、“数据处理与输出”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

 

4.2、“热模型抽取”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

 

4.3、“脉冲热阻”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

 

4.4、“安全工作区”ST-HeatX_半导体热特性热阻抗测试仪系统

 

ST-HeatX迷你版(10A5V1C1P版本)

 


搜好货供应商陕西天士立科技有限公司供应热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口_热阻抗_热特性_瞬态稳态热阻Kcurve/Rth/Zth,为您提供详细的产品报价、参数、图片等商品信息,如需进一步了解热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口_热阻抗_热特性_瞬态稳态热阻Kcurve/Rth/Zth,请与厂家直接联系,请在联系时说明是在搜好货网看到这条商机的。
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进入店铺首页 → 陕西天士立科技有限公司 采通通 第3年

陕西天士立科技有限公司,专业从事半导体检测之“半导体电学测试系统”“半导体可靠性试验台”“半导体老化试验台”以及气候环境试验设备、力学环境试验设备、参数化脉冲电源、半导体EDA仿真软件、智慧工厂、碳化硅陶瓷材料、第三方检测实验室为一体的科研、制造、开发、服务性品牌。核心团队汇集了来自院所高校和知名企业的从事电力电子、芯片开发、电源、软件等领域的资深人士。拥有众多行业领先的创新技术和专利。产品成熟可靠,久经市场考验,在替代同类进口产品方面有着突出的优势。 “半导体检测”系列产品覆盖半导体功率器件的初始研发到规模量产再到应用端的全产业链。服务领域包括半导体器件及IC上游产业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和应用端产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等......)应用场景主要有器件及IC研发期预演测试、晶圆厂自动化芯片测试、器件及IC后道封装测试。应用端的来料检验、失效分析、器件选型、参数配对、寿命预估等。 “环境试验设备”包括力学振动台、冲击试验台、振动温度湿度三综合、高低温环境试验箱、各类气候环境试验箱、热流仪、精密实时在线高低温箱。 “电气工程”产品系列及服务包括电力半导体器件、模块、组件的研制及综合检测设备;电气自动化设备,电冶、电化学整流装置;电力半导体变流装置及各种高、中、低频感应加热电源,感应加热炉,变压器、整流器、电感器、电容器、互感器、传感器及其配套设备;晶闸管光控高压阀组、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驱动器;远距离光电传感转换软件控制系统;光电脉冲触发板、IGBT智能高压驱动机车调速汇报板;SVC无功静补装置等。 展望未来,公司将全力发挥自身技术开发优势,为行业持续输出更多优秀产品,贡献更多先进技术方案。

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公司名称陕西天士立科技有限公司
公司类型有限责任公司(自然人独资)
经营模式生产厂家
成立日期2023-07-04
经营地址陕西省西安市王寺街道西部生命科学园10号楼北202
主营行业参数测量仪
主营产品软件开发,技术服务,半导体器件专用设备制造,仪器仪表制造,电子元器件制造,机械电气设备制造,电子专用材料制造,电子产品销售
此热阻测试仪_陕西天士立ST-HeatX_平替进口_热阻抗_热特性_瞬态稳态热阻Kcurve/Rth/Zth产品由陕西天士立科技有限公司在2024-07-11T17:06:58更新,主要更新内容为:产品起订价,产品起订量,产品类别,联系方式,产品参数信息。
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