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陕西天士立科技有限公司

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半导体分立器件静态参数测试仪系统

参数测量仪产品天士立STD2000半导体测试仪,欢迎选购!

价加格
¥259000
起订量
≥1 套
可售量
9999 套
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加工定制 :
否
品牌 :
天士立
型号 :
STD2000
类型 :
电参数测量仪
测量范围 :
0~200A,0~2000V
测量精度 :
1nA,1mV
功率 :
1000W
频率 :
60HZ
重量 :
30KG
尺寸 :
660*430*210mm
电源 :
220V
产品详情
Product details

半导体分立器件静态参数测试仪系统

 

陕西天士立科技有限公司/STD2000/半导体分立器件参数测试仪系统可以测试Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦......等很多电子元器件的静态直流参数和IV曲线(如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、内阻Rds(on))以及IV特性曲线等


 


一、产品信息及规格

产品型号:STD2000

产品名称:半导体分立器件静态参数测试仪系统

主机尺寸:深660*宽430*高210(mm)

主机重量:<35kg

主机功耗:<300W

海拔高度:海拔不超过 4000m;

环境要求:-20℃~60℃(储存)、5℃~50℃(工作);

相对湿度: 20%RH~75%RH (无凝露,湿球温度计温度 45℃以下);

大气压力:86Kpa~106Kpa;

防护条件:无较大灰尘,腐蚀或爆炸性气体,导电粉尘等;

电网要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作时间:连续;

 

二、产品特点

三代半:优秀的性能应对第三代半导体及传统器件,Si, sic,GaN 器件

测试品类:覆盖 25 类常见的电子元器件及 IC 类,且支持定制扩展

功能丰富:轻松表征元器件“静态特性”“IV 曲线”“Cxss”“CV”

分析筛选:功能全面,配置丰富,胜任实验室场景中各类电参数表征

量产测试:1h高达 7K~12K 的测试效率,可连接“分选机”“编带机”Prober 接口、16Bin

一键加热:一键脉冲自动加热至+130°C,耗时< 1s

高压源:1400V (选配 2KV)

高流源:40A(选配 100A,200A,500A)

驱动电压:20V/10uA~100mA (选配+40V/10uA~100mA)

漏电测量:1nA 漏电持续稳定测量,表现出优秀的一致性和稳定性,更有1.5pA 微电流测量选件可供选择。

高精度:16 位 ADC/DAC,0.1%精度,1M/S采样速率

程控软件:基于Lab VIEW 平台开发的填充式菜单软件界面

夹具工装:适配各类封装形式的器件,自动识别器件极性 NPN/PNP

校准:系统自带校准软件,也可通过 RS232 接口连接数字表进行校验

 

三、测试范围

01. Diode / 二极管(稳压、瞬态、三端肖特基、TVS、整流桥、三相整流桥)

02. BJT / 三极管

03. Mosfet & JFET / 场效应管

04. SCR / 可控硅(单向/双向)

05. IGBT / 绝缘栅双极大功率晶体管

06. OC / 光耦

07. Relay / 继电器

08. Darlington tube / 达林顿阵列

09. Current sensor/电流传感器

10. 基准IC(TL431)

11. 电压复位IC

12. 稳压器(三端/四端)

13. 三端开关功率驱动器

14. 七端半桥驱动器

15. 高边功率开关

16. 电压保护器(单组/双组)

17. 开关稳压集成器

18. 压敏电阻

19.电压监控器


四、测试参数

漏电参数:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)

击穿参数:BVCEO BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、VD、BVCBO、VDRM、VRRM、VBB、BVR 、VD+、VD-、BVDGO、BVZ、BVEBO、BVGSS、BVGKO

导通参数:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VTM、VGETH、VSD、IDON、VSAT、IDON、VO(Regulator)Notch = IGT1、IGT4、ICON、VGEON、IIN(Regulator)

关断参数:VGSOFF

触发参数:IGT、VGT

保持参数:IH、IH+、IH-

锁定参数:IL、IL+、IL-

增益参数:hFE、CTR、gFS

间接参数:IL

混合参数:RDSON、gFS、Input@Output / Regulation


五、应用场景

1、测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试,主要功能为曲线追踪仪)

2、失效分析(对失效器件进行测试分析,查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案)

3、选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)

4、来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)

5、量产测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试)

6、替代进口(半导体分立器件静态参数测试仪系统可替代同级别进口产品)

 

 

六、性能指标

 

 

 

 

 

 


搜好货供应商陕西天士立科技有限公司供应半导体分立器件静态参数测试仪系统,为您提供详细的产品报价、参数、图片等商品信息,如需进一步了解半导体分立器件静态参数测试仪系统,请与厂家直接联系,请在联系时说明是在搜好货网看到这条商机的。
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陕西天士立科技有限公司,专业从事半导体检测之“半导体电学测试系统”“半导体可靠性试验台”“半导体老化试验台”以及气候环境试验设备、力学环境试验设备、参数化脉冲电源、半导体EDA仿真软件、智慧工厂、碳化硅陶瓷材料、第三方检测实验室为一体的科研、制造、开发、服务性品牌。核心团队汇集了来自院所高校和知名企业的从事电力电子、芯片开发、电源、软件等领域的资深人士。拥有众多行业领先的创新技术和专利。产品成熟可靠,久经市场考验,在替代同类进口产品方面有着突出的优势。 “半导体检测”系列产品覆盖半导体功率器件的初始研发到规模量产再到应用端的全产业链。服务领域包括半导体器件及IC上游产业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和应用端产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等......)应用场景主要有器件及IC研发期预演测试、晶圆厂自动化芯片测试、器件及IC后道封装测试。应用端的来料检验、失效分析、器件选型、参数配对、寿命预估等。 “环境试验设备”包括力学振动台、冲击试验台、振动温度湿度三综合、高低温环境试验箱、各类气候环境试验箱、热流仪、精密实时在线高低温箱。 “电气工程”产品系列及服务包括电力半导体器件、模块、组件的研制及综合检测设备;电气自动化设备,电冶、电化学整流装置;电力半导体变流装置及各种高、中、低频感应加热电源,感应加热炉,变压器、整流器、电感器、电容器、互感器、传感器及其配套设备;晶闸管光控高压阀组、GTO、IGBT、IGCT、MOSFET驱动器;远距离光电传感转换软件控制系统;光电脉冲触发板、IGBT智能高压驱动机车调速汇报板;SVC无功静补装置等。 展望未来,公司将全力发挥自身技术开发优势,为行业持续输出更多优秀产品,贡献更多先进技术方案。

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公司名称陕西天士立科技有限公司
公司类型有限责任公司(自然人独资)
经营模式生产厂家
成立日期2023-07-04
经营地址陕西省西安市王寺街道西部生命科学园10号楼北202
主营行业参数测量仪
主营产品软件开发,技术服务,半导体器件专用设备制造,仪器仪表制造,电子元器件制造,机械电气设备制造,电子专用材料制造,电子产品销售
此半导体分立器件静态参数测试仪系统产品由陕西天士立科技有限公司在2024-04-28T16:48:32更新,主要更新内容为:产品参数,产品价格,产品图片,产品详情,产品促销语信息。
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