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低频介电常数及介质损耗测试系统(20HZ-1MHZ)型号:HH12-AS2878库号:M408302

其他专用仪器仪表产品M408302HH12-AS2878低频介电常数及介质损耗测试系统,欢迎选购!

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加工定制 :
类型 :
通讯检测仪器
品牌 :
M408302
型号 :
HH12-AS2878
重量 :
10
产品详情
Product details

  

低频介电常数及介质损耗测试系统(20HZ-1MHZ)型号:HH12-AS2878库号:M408302  

AS2878主机参数  

ε和D性能:  

固体缘材料测试频率20Hz~1MHz/20Hz~2MHz/20Hz~5MHz的ε和D变化的测试。  

ε和D测量范围:ε:1~105,D:0.1~0.00005,  

ε和D测量(10kHz):ε:±2%,D:±5%±0.0001。  

测试参数:C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR  

测试频率:20Hz~5MHz,10mHz步进  

测试信号电平:f≤1MHz10mV~5V,±(10%+10mV),f>1MHz10mV~1V,±(20%+10mV)  

输出阻抗:10Ω,30Ω,50Ω,100Ω  

基本准确度;0.1%  

显围:  

L0.0001uH~9.9999kH  

C:0.0001pF~9.9999F  

R,X,Z,DCR:0.0001Ω~99.999MΩ  

Y,B,G0.0001nS~99.999S  

D:0.0001~9.9999  

Q:0.0001~99999  

θ:-179.99°~179.99°  

测量速度;快速:200次/s(f﹥30kHz),100次/s(f﹥1kHz)  

中速:25次/s,慢速:5次/s  

校准功能:开路/短路点频、扫频清零,负载校准  

等效方式:串联方式,并联方式  

量程方式:自动,保持  

显示方式:直读,Δ,Δ%  

触发方式:内部,手动,外部,总线  

内部直流偏:电压模式-5V~+5V,±(10%+10mV),1mV步进  

置源:电流模式(内阻为50Ω)-100mA~+100mA,±(10%+0.2mA),20uA步进  

比较器功能:10档分选及计数功能  

显示器;7寸LCD显示  

存储器:可保存20组仪器设定值  

USBDEVICE(USBTMCandUSBCDCsupport)USBHOST(FAT16andFAT32support)  

接口:LAN(LXIclassCsupport)RS232CHANDLERGPIB(选件)  

工作频率范围:20Hz~5MHz数字合成,  

±0.02%  

电容测量范围:0.00001pF~9.99999F六位数显  

电容测量基本:±0.05%  

损耗因素D值范围:0.00001~9.99999六位数显  

介电常数测试装置(含保护电极):介电常数测试装置提供测试电极,能对直径φ6~50mm,厚度<14mm的试样测量。  

它针对不同试样可设置为接触电极法,薄膜电极法和非接触法三种,以适应软材料,表面不平整和薄膜试样测试。  

微分头分辨率:10μm  

耐压:±42Vp(AC+DC)  

电缆长度设置:1m  

使用频率:5MHz  

2S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:  

固体:材料测量直径Φ38mm;厚度可调≥15mm  

液体:测量极片直径Φ38mm;液体杯内径Φ48mm、深7mm(选配)




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