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FF光学膜厚控制仪型号:MN666-GM-X03 库号：M12664

控制（调节）仪表产品M12664MN666-GM-X03 光学膜厚控制仪，欢迎选购！

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可售量	11 台

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北京中西华大科技有限公司
第 6 年
联系姓名：范经理
电话号码：17338152667
固定电话：173-38152667
所在地区：北京市-市辖区
经营模式：生产厂家
主营产品：水质检测仪, 大学实验室设备, 电力环保设备, 牙膏硬度计, 便携式油水界面仪, 防爆安全温度计, 污泥浓度计, 多参数土壤参数分析仪, 分析试剂, 微机型电阻真空计
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品牌 :	M12664	型号 :	MN666-GM-X03
加工定制 :	否	测量范围 :	1KHz,±5%
外形尺寸 :	482x89x322mm

产品详情

Product details

真空镀膜，膜厚控制仪
本仪器是相位锁定放大器，用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道，参考信号通道和先进的四阶低Q滤波技术组成，有很强的谐波抑制能力和动态储备，能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。
采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试，确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。
高稳定性。操作简便，实用性强
技术参数：

GM-X03
主信号通道：电压单端输入
满程灵敏度：0.5mV~500mV
频率范围：1KHz,±5%
锁相噪声：≦4nV
线性误差：≦1%
零点漂移：0.2%（小时）
参考信号通道：电压单端输入
输入幅度：20mV~700mV
频率范围：1KHz,±5%
相位锁定范围：≧320°
电源电压：220VAC/50Hz
外形尺寸：宽482x高89x深322（mm）/标准2U面板
净重：7.5Kg

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