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产品特性 : |
快速无损 |
是否进口 : |
否 |
产地 : |
江苏 |
加工定制 : |
是 |
类型 : |
镀层测厚仪 |
品牌 : |
天瑞 |
型号 : |
EDX2000A |
测量范围 : |
0.000005~0.05 |
显示方式 : |
电脑上位机软件 |
电源电压 : |
AC220 |
外形尺寸 : |
485×588×505 |
测量元素范围 : |
铝（AL）~铀（U） |
检出限 : |
0.005μm |
含量测试范围 : |
0.1%-99.99% |
厚度测试标准偏差 : |
＜3% |
含量检测精度 : |
＜0.5% |
检测时间 : |
5-40秒 |
探测器 : |
大窗口FAST SDD探测器 |
能量分辨率 : |
140±5ev |
X射线装置 : |
微焦斑W靶光管 |
仪器重量 : |
60kg |
EDX2000A全自动微区膜厚测试仪 是天瑞仪器研发的一款上照式膜厚测试仪。采用进口高分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，相比于传统的镀层测厚设备，不仅在常规的传统电镀上表现更加优异，更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光定位和保护系统，实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析。
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