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品牌 : |
天瑞仪器 |
显示方式 : |
上位机软件 |
测量范围 : |
硫（S）~铀（U） |
加工定制 : |
否 |
外形尺寸 : |
576mm×495mm×545mm |
精度 : |
＜0.5% |
重量 : |
90kg |
分辨率 : |
140±5ev |
测定对象 : |
表面金属镀层厚度 |
探测器 : |
电制冷SDD半导体探测器 |
X射线装置 : |
W靶X光管 |
检出限 : |
0.005μm |
检测时间 : |
5-40秒 |
含量测试范围 : |
2PPM-99.9% |
镀层测试精度 : |
＜5% |
小测试点 : |
Φ0.1mm |
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