美国Keithley吉时利4200A半导体参数分析仪

详情介绍：

使用4200A-SCS加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。业内性能参数分析仪，提供

同步电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和超快脉冲I-V测量。

4200A-SCS是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压,电容电压和超快脉冲特性。

作为性能高的参数分析仪，加快了半导体，材料，工艺开发的速度。

ClariusTM基于GUI的软件提供了清楚的，不折不扣的测量和分析仪功能。凭借嵌入式测量知识和数百项随时可以投入使用的应用测试

Clarius Software可以更深入的挖掘研究过程，而满怀信心。

可以根据不同客户需求灵活配置，不管是现在还是在未来，都可以随时对系统进行升级。通往发现之旅现在变得异常简便。

主要性能指标：

I-V源测量单元（SMU）

210V/100mA或者210V/1A模块

100fA测量分辨率

选配钱端放大器提供了10aA测量分辨率

100mHZ-10HZ频率电容测试

四象限操作

2线或4线连接

C-V多频率电容单元(CVU)

AC阻抗测量（C-V,C-F,C-T）

1kHZ-10mHZ频率范围

30V（60V差分）内置DC偏置源，可以扩展到210V（420差分）

选配CVIV多通道开关，在I-V测量和C-V测量之间简便切换脉冲式I-V超脉冲测量单元(PMU)

两个立的或者同步的高速脉冲I-V源和测量通道

200MSa/s,5ns采样率

40V（80V p-p）,800MA

瞬态波形捕获模式

任意波形发生器Segment ARB@模式，支持多电平脉冲波形，10Ns可编程分辨率

高压脉冲发生器单元（PGU）

需要可以在网页上搜索《深圳市宝安区沙井方丰瑞仪器设备经营部》可找到我们哦~