安捷伦HP/惠普HP4145A半导体参数分析仪

HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室，HP4145B是电子工业中 个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。

HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。

主要特点及优点：

在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率

可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作

内置的“源存储器”可编程序列发生器 多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要

高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性

内置的比较器简化了pass/fail测试

数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手

0.012%的 度，5?的分辨率

HP4145B简介:

产品名称：半导体参数分析仪

产品型号：HP4145B

产品品牌：美国惠普/HP

HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室

HP4145B是电子工业中第一个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。

HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压并将测试结果显示在内置的

CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。

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