可控硅测试仪三极管测试仪

磁场信号检测 无感应电阻器两端电压降法最大容许电流±6A 磁通密度信号检测 感应电压检测线圈两端电压检测法 最大容许电压±200V 数字化仪 分辨率 16bits （8192points / cycle） 样品连接方法 2绕线法或1绕线法 显示方式 8.4 英寸 TFT-LCD SVGA 800×600 像素 电源 100V 至 240V50/60Hz 功耗约 130VA（MAX） 尺寸 （mm）， 质量 420W×266H×480D（不含突起部），主体约12.5kg 外部存储器 USB（数据存储） 配件 POD 盖、交流耦合模块、功率放大器电缆 （BNC-BNC）、OSC 电缆 （BNC-SMA）、电源线、用户指南、用户手册 （CD）

标準配置 (主机背面) 测试点数可调整.可根据需要的扫描速度及分辨率来设置. 根据不同用途可改变扫描方向. 同时具有客户指定功能, 可以指定仅对某一段进行扫描, 特别是在自动测试时可以实现高速且高分辨率的测试(附图) 限制扫描功能 (选件CS-800) 在一般的扫描测试中加入电流, 电压的限制功能. 限制在被测模块上印加的电流值, 电压值以起到保护作用. 也可在达到目标值时停止扫描(附图) Vth-hFE自动检测功能(选件CS-800) 可在条件设㝊後进行自动测试, 避免了之前的繁杂操作 Constant 功能 (选件CS-800) 可印加规定电压或规定电流. 与CS-810半导体参数测试软件配合使用时, 可使用半导体曲线图示仪进行自动疲劳测试 温度特性测试 (选件CS-810) 通过CS-810半导体测试软件对曲线图示仪, 扫描系统, 加热板的自动控制, 实现温度特性评估试验的全自动测试 (附图) CS-810是一个可安装于电脑中的选件应用软件. 通过以太网控制图示仪, 扫描系统, 加热板等设备, 经简单的设置後就可将一直以来只能手动测试的曲线图示仪实现全自动化测试, 大幅地提升工作效率 全自动化测试:测试→记录→判断. 提高品管和品检的工作效率 (附图)

模块或数个芯片, 器件自动切换测试 可自动控制加热板, 全自动进行六合一模块的温度特性测量 测试结果窗口 (附图) 波形比较功能: 可将产品开发时的不稳定状态或不良分析时测得的多个波形进行同屏比较, 或通过波形比较来判断是否合格 (附图) 产品应用 适用于高电压或高电流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半导体器件 (如晶体管, 二极管和 LED) 的特性测试 电力电子器件 (如 SiC和GaN) 的电容测量 (选件CS-603A/CS-605A) 可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A) 静态特性测试包括漏电流, 饱和电压, VF和Vth (附图) 传输特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和电路模块的测试功能 器件测试 可以在短时间内执行多个器件的测试和记录. 操作员只需根据器件替换和连接更改来输入样本名称, 以重复相同的测试. 在既定条件下判断 (通过/失败) 将显示每个测试与图像和波形数据也将自动存储(附图) 半导体温度特性测试评估