半导体特性测试仪二手仪器价格

日本IWATSU CS-3300半导体特性曲线图示仪CS-3100，CS-3200，(符合 UL 规格) 非常适合测量不同类型半导体（包括IGBT、MOSFET、晶体管和二极管）的特性 zui大峰值电压：3000 V（高电压模式，适合所有型号） zui大峰值电流：1000 A（CS-3300高电流模式） 所有型号均支持漏电流（LEAKAGE）测试模式（光标分辨率：1 pA） USB接口（保存屏幕图像和设置条件）

模块或数个芯片, 器件自动切换测试 可自动控制加热板, 全自动进行六合一模块的温度特性测量 测试结果窗口 (附图) 波形比较功能: 可将产品开发时的不稳定状态或不良分析时测得的多个波形进行同屏比较, 或通过波形比较来判断是否合格 (附图) 产品应用 适用于高电压或高电流功率器件 (如IGBT和功率MOSFET) 及半导体器件 (如晶体管, 二极管和 LED) 的特性测试 电力电子器件 (如 SiC和GaN) 的电容测量 (选件CS-603A/CS-605A) 可实行晶圆和芯片上的电容测试 (探针台和选件CS-603A/CS-605A) 静态特性测试包括漏电流, 饱和电压, VF和Vth (附图) 传输特性 (Vge-Ic/Vge-Vce) 和电路模块的测试功能 器件测试 可以在短时间内执行多个器件的测试和记录. 操作员只需根据器件替换和连接更改来输入样本名称, 以重复相同的测试. 在既定条件下判断 (通过/失败) 将显示每个测试与图像和波形数据也将自动存储(附图) 半导体温度特性测试评估

环路校正 测试台的集电极引脚与接地之间的杂散电容由高电压模式下的硬件提供补偿，还可提供数字补偿。 大电流模式（脉冲） - zui大峰值电流 zui大峰值电压 400 A 40 V 40 A 40 V zui大峰值电流 zui大峰值电压 1000 A 40 V 400 A 40 V 40 A 40 V 脉冲宽度/测量点 - 脉冲宽度可在50 - 400 μs范围内变化。 可以测量点（分辨率为10 μs/步进）。 数据点上限 每次跟踪可以20 - 1000个点。 阶梯信号发生器 电流模式 幅度范围：50 nA - 200 mA，共21个范围，步进为1-2-5 zui大电流：±2A/偏移：步进幅度设置的±10倍 电压模式 幅度范围：50 mV - 2 V，共6个范围，步进为1-2-5 zui大电压：±40V/偏移：步进幅度设置的±10倍 步进率 梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍 （AC模式下为50 Hz或60 Hz） 梯形波：50 Hz或60 Hz的2倍（AC模式下为50 Hz或60 Hz） 脉冲：脉冲变化范围为80ms - 1000 ms。 （zui低频率受zui大峰值功耗设置限制。） 脉冲步进 脉冲宽度可在50μs - 400 μs范围内变化（分辨率为10μs）。