云科 大米外观品质检测仪 YK-DM02 稻谷外观品质分析系统

云科 大米外观品质检测仪 YK-DM02 稻谷外观品质分析系统

大米外观品质分析仪可自动测量每粒的面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径。可用于各种类大米（精米、糙米、糯米等）各项外观品质指标的精准自动检测，可进行多参数、批量化的自动分析。

1、图像采集方式：扫描（配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪来成像。透扫幅面30 cm×20 cm，*小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm）

2、判定方式： 通用计算机专用处理软件

3、大米外观品质分析仪可自动一次性测量分析30g以上大米样品。

4、可大批量自动分析处理与输出结果。

长度测量误差≤±0.05mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02

6、整精米率、碎米率指标测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%

7、具有自动学习与识别特性，可自动分割粘连的大米、种粒，可做自动分类分析。

8、具有样本条码、电子天平RS232数据软件接口。可兼测的种粒范围0.25-20mm，自动数粒精度≥99%，交互修正后准确率达100.%。

9、环境条件：温度10~30℃，相对湿度≤85%，防止强光照射。仪器应放在平稳工作台上，周围无强烈的机械振动和电磁干扰；电源要求220V±10%，50Hz。