德国菲尼克斯Surfix basic S测厚仪

Surfix FN两用统计型测厚仪

Surfix BN统计型测厚仪

Surfix BFN外置探头两用统计型测厚仪

Surfix F涂层测厚仪

Surfix BF外置探头统计型测厚仪

Surfix BFN外置探头统计型涂层测厚仪

Surfix N外置探头统计型测厚仪

PHYNIXSurfix分体式测厚仪 

型号：(B)FN,(B)F,(B)N   

产地：德国   

特点：高科技，手机外形，最小测面积菜单操作，分辨率0.1μm，两类基体自动识别

量程：0-1500μm，0-60mils，90°直角探头九种规格，统计值在线显示  

可选型号： 

Surfix (B)FN 型适合测量金属基体上的涂镀层、氧化膜等。

Surfix (B)F 型适合钢铁基体上的涂镀层厚度测量。

Surfix (B)N 型适合有色金属材上的膜厚测量。 

技术参数： 

测量范围 ：0-1500μm,0 - 60mils

误    差：    1μm或1%读数 

分 辨 率：     0.1μm或<测量读值的2% 

显    示：     背景照明，四位读数显示，两行统计数字显示，英文操作指南 

基体最小面积： 5mmX5mm 

基体最小曲率： 凸面：1.5mm 凹面：5mm 

基体最小厚度： F型：0.2mm ,N型： 50μm

校准 厂家校准，零校准，校准箔校准 

数据统计（仅限统计型）： 读数个数（最多9999个），平均值，标准偏差，最大值和最小值 

数据存储（仅限统计型）： 最多200个测量数值,可单独调出

数据值（仅限统计型）： 上下限可调,声音报警 

数据接口 ：红外通讯,IrDA标准

环境温度/表面温度 ： 0-50℃/150℃ 

电源 ： 2节1.5伏AA碱性干电池