单晶少子寿命测试仪型号:THZ24-LT-2库号：M408359

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单晶少子寿命测试仪型号:THZ24-LT-2库号：M408359

LT-2型单晶少子寿命测试仪，该仪器用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

本仪器根据高频光电导衰退法的原理，由稳压电源、高频源、检波放大器，InGaAsp／InP红外光源及样品台共五部份组成。采用印刷电路和高频接插连接。

技术指标：

测试单晶电阻率范围 >2Ω.cm

可测单晶少子寿命范围 5μS～7000μS

配备光源类型波长：1.09μm；余辉<1μS；

闪光频率为：20～30次／秒；

高频振荡源用石英谐振器，振荡频率：30MHz

前置放大器放大倍数约25，频宽2Hz-1MHz

仪器测量重复<±20％

测量方式采用对标准曲线读数方式

仪器消耗功率 <25W

仪器工作条件温度：10-35℃、湿度<80％、使用电源：AC220V，50Hz

可测单晶尺寸断面竖测：φ25mm—150mm；L2mm—500mm；

纵向卧测：φ25mm—150mm；L50mm—800mm；

配用示波器频宽0—20MHz；

电压灵敏：10mV／cm；

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此单晶少子寿命测试仪型号:THZ24-LT-2库号：M408359产品由北京中西华大科技有限公司在2021-12-16T14:38:49更新，主要更新内容为：产品详情,产品促销语,产品起订价,产品起订量,产品类别信息。

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