方块电阻测试仪型号:TZ240-ST-21库号:M397541
方块电阻测试仪是测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器,可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),薄膜等同类物质的薄层电阻。
该仪器以集成电路为;用基准电源和运算放大器组成稳流源;带回路正常指示电路;并配以LCD显示读数。
特点
1采用集成电路作为仪器的主要部分;
2以LCD显示读数;
3采用单个电池供电,带电池欠压指示;
4体积≤175mmX90mmX42mm,重量≤300g;
5手握式探笔,球形探针、镀金探针接触被测材料及保护薄膜
6探头带抗静电模块
技术指标
测量范围
按方块电阻量值大小分为二个量程档:
1.方块电阻1.00~199.99Ω/□;
2.方块电阻10.0~1999.9Ω/□;
分辨率:0.01Ω/□
恒流源
测量过程:≤±0.8%
模数转换器
量程:0~199.99mv;
分辨率:10μv;
方式:LCD显示;过量程均自动显示;小数点同步显示;
测量不确定度
在整个量程范围内,测量不确定度≤5%
四探针探头规格
间距:1mm、1.59mm、3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;缘电阻≥500MΩ
电源
9V叠层电池1节





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