第三代半导体IV曲线测试仪

第三代半导体IV曲线测试仪功能：
①集合电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载的功能于一身，广泛用于各类精密器件的测量。
②四象限工作，可作为源或负载

S型数字源表与万用表的区别：
源表相对传统电源的优势：传统电源过零时需要改变线连接方式，增加需要反复切换的机械开关，降低了设备的可靠性；且电源电压电流限制精度有限，电压1%，电流10mA；
源表相对电源结合万用表组合的优势：万用表电源组合需要编程实现设备控制及同步，复杂连线且要编程开发；电源限压限流性能差，限压限流精度低，瞬态特性也无法保证；
普赛斯仪表S型数字源表国产自主研发，单通道，不支持脉冲输出，触摸屏操作，支持多种通讯方式，RS-232、GPIB及以太网；最大输出电压达300V，最小电流分辨率10pA，支持USB存储，一键导出数据报告，S系列源表价格优势明显；

S型数字源表技术参数
最大输出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：电压源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
电流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；
过量程：   105%量程，源和测量；
稳定负载电容：<22nF；
宽带噪声(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV  Vp-p（典型值）；
线缆保护电压：输出阻抗1KΩ，输出电压偏移<80uV；
最大采样速率：1000  S/s；
触发：支持IO触发输入及输出，触发极性可配置；
输出接口：前后面板香蕉头插座输出，同一时刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太网；
电源：AC  100~240V 50/60Hz；
工作环境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm宽 × 425mm长；

S型数字源表应用领域
分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC、GaN等器件；
•能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等
•传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等
•有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等
•纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

第三代半导体IV曲线测试仪应用优势：
1、 多功能测量需求下的广泛的适应性，电压高300V，电流低至100pA；
2、  实现“源”的输出和“表”的测量同步进行，提高测试效率。
3、  具备对测试器件的保护功能，可进行自我限制，避免因过充而造成的对测试器件的损害；
精确的电压电流限制功能，为器件提供完善的保护功能，避免器件损坏。
4、  触屏图形化操作，使用简单。开放式平台，可根据实际应用的需求而针对性的开发软件。

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