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导电型号测试仪是严格按照SEMI MF42-1105、GB/T 1550-1997（非本征半导体材料导电类型的标准测试方法）中的热探针法设计的导电类型鉴别仪。 本仪器热探笔内装有加热和控温组件，自动加热并使温度维持在40-60℃范围内，冷热探笔在半导体材料上产生的热电动势，经低噪声、低漂移的集成运算放大器放大后，用宽表面检流计指示型号方向，并可定量测出热电流的数值大小。仪器灵敏度可调，可在的电阻率（从高阻单晶到重掺单晶）范围内判别半导体材料型号。 技术参数 （1）可判别锗、硅材料的电阻率范围： 锗：非本征锗～10-4Ω·cm ，硅：103～10-4Ω·cm 实验证明：在室温情况下，对于电阻率低于1000Ω·cm的N型和P型硅，本方法结果。 （2）热电流测量范围：0～±1μA 分六个量程： ±3nA、±10nA、±30nA、±100nA、±300nA、±1μA 大偏转灵敏度：1×10-11A/格 （3）锗、硅单晶直径及长度：不受限制。 （4）显示方式：刻度为零位的宽表面指针指示器，指针向正方向偏转被测样品为P型，指针向负方向偏转被测样品为N型。 （5）探针：选用SEMI MF42-1105标准中建议的不锈钢作探针材料，针尖为60°锥体，热笔温度自动保持在40-60℃范围内，冷笔与室温相同。 （6）电源及功耗：AC 220V±10%，50HZ交流供电，耗电小于10W。 （7）外型尺寸：170×160×230（mm） （8）重量：约2.5kg
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