精密低阻测量 

　　在低电流电路中，机电元件的接触故障是元件可靠性中的主要问题。HP 4338B提供可选择的低交流测试信号(1μA~10mA)。用户目前可在低电流的条件下来表征机电元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用来确定继电器、开关、接头、印制电路板图形和电缆在接触电阻测试中的微小差别。1kHz测试信号消除了由热电对被测元件接触的影响而引入的潜在误差。1kHz的交流测试信号是检查电池内阻的Z好方法，因为它避免了直流能量的消耗。 

　　高速测量 

　　高速(34ms)内设比较器和HP-IB/处理器接口有可能用自动处理器和外部计算机构成一个测量系统，使生产测试时间缩短到Z低限度。 

　　自动测量方式 

　　在进行大量连续的测试、而测试信号电平又不是很主要的因素时，自动测量功能会使仪器选择合适的测试信号并设定测量范围。 

技术指标

　　(全面的技术指标请参阅技术资料) 

测量功能 

测量参数：R(交流电阻)，X(电抗)，L(电感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°]) 

组合参数：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只适用于串联模式) 

数学功能：偏差和相对偏差(以百分比表示) 

显示数字：3.4或5位(可选择) 

测试信号特性 

测试频率：1kHz 

频率精度：±0.1% 

测试信号电平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms 

电平精度：±(10%＋0.2μA) 

样品两端的最Z