品牌 : |
D29 |
型号 : |
FT-300TZ |
适用范围 : |
10^-7~2×10^7Ω-cm |
分辨率 : |
0.1uV 1uV 10uV |
温度 : |
23℃±1℃ |
公司名称 : |
两探针电阻率测试仪 |
电源 : |
220±10% |
装箱数 : |
一个 |
两探针电阻率测试仪 型号:FT-300TZ
库号:D291339

参照标准:
GB/T 1551-2009 硅单晶电阻率测定方法-方法2直流两探针法;
SEMI MF 397-1106<<硅棒电阻率测定两探针法>>
参数 资料
1.电阻率:10^-7~2×10^7Ω-cm
2.电 阻:10^-7~2×10^7Ω
3.电导率:5×10^-7~10^7s/cm
4.分辨率: 0.1μΩ 测量误差±(0.05%读数±5字)
5.测量电压量程: 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±(0.1%读数)
6.分辨率: 0.1uV 1uV 10uV 100uV
7.电流输出:直流电流 0~1000mA 连续可调,
量程:1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,1000mA, 误差:±0.2%读数±2字
8.显示方式:液晶显示:电阻值、电阻率、电导率值、温度、单位自动换算、横截面、高度、电流、电压等.
9.温度要求:23℃±1℃
10.电源:220±10% 50HZ/60HZ
11. 测量平台参数如下:
1).可测硅芯、检验棒尺寸:直径4~22㎜ (其他规格可定制)
2).探针头探针与试样接触位置重复,无横向移动。
3).两探针测试探针。探头间距1.59mm(其他规格可定制);探针机械游率:±0.3%。
4).探针直径0.8㎜;探针压力总6-12N,探针材料:钨针,
5).探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧
12.标配外选购项:a.pc软件1套;b.标准电阻1件;c.电脑和打印机
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