HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室，HP4145B是电子工业中***个可以独立对半

导体器件和材料进行直流参数的仪器。HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压并将

测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。

主要特点及优点：

  在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率

  可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作

  内置的“源存储器”可编程序列发生器***多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要

  高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性

  内置的比较器简化了pass/fail测试

  数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手

  0.012%的***度，5?的分辨率