主要参数:·半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源(370A)
-上限到3000V(371A)
-上限到220W(370A)
-上限到400A(371A)
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W(371A)
·上限到2mV的测量分辨率(370A)
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标(370A)
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘,方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程控
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式,调整和存储操作参数,包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件,它提供被测器件安全防护,以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001,中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是全球 的高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二J管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室,用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中,用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电J电源 模式- 大电流: 250μS,30V的Z大脉冲峰值 高电压: 全整流正弦波,3000VZ大峰值(两种模式,正负J性均可选择) 范围 峰值电流 峰值 功率 大电流 30V 400A 3kW (脉冲式) 30V 40A 300W 高电压 3kV 40mA±20% 30W 3kV 4mA±20% 3W 300V 4mA±20% 300mW 300V 4mA±20% 30mW 测量特性 集电J电流 Z大设置功率 垂直量程(按1-2-5步进) 3kW 1A/div至50A/div 300W 500mA/div至5A/div 30W 100μA/div至5mA/div 3W,300mW 10μA/div至500μA/div 30mW 1μA/div 至50μA/div 测试夹具 设计的夹具容易与许多器件相连接,有安全的防护以确保操作者的安全。提供专用设备连接电缆以供与大型器件连接。
- 深圳市科中科仪器有限公司
- 谭新华 业务部
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