E4991A 射频阻抗/材料分析提供限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量 3 GHz 以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A 使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更的阻抗测量结果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的扫描范围和 1 mHz的分辨率。

材料评估

E4991A 提供完整的介电/磁性材料测量解决方案，涵盖 1 MHz 至 1 GHz的宽频率范围。

主要特性与技术指标

基本精度

Ø         基本精度 +/-0.8%

Ø         扫描参数

Ø         频率：1 MHz 至 3 GHz

Ø         振荡器电平：高达 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms

Ø         DC 偏置电平（选件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA

更多特性

Ø         Windows 风格的用户界面

Ø         内置 VBA 编程功能

Ø         通过 LAN 接口进行数据传输

Ø         多功能测量选件

Ø         介电/磁性材料测量（选件 E4991A-002）

Ø         可靠的晶圆测量（选件 E4991A-010）