主要参数：·半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的测量分辨率（370A）
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标（370A）
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程控
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是全球 的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二J管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电J电源 模式- 　 大电流： 250μS，30V的Z大脉冲峰值 高电压： 全整流正弦波，3000VZ大峰值（两种模式，正负J性均可选择） 范围 峰值电流 峰值 功率 大电流 30V 400A 3kW （脉冲式） 30V 40A 300W 高电压 3kV 40mA±20% 30W 　 3kV 4mA±20% 3W 　 300V 4mA±20% 300mW 　 300V 4mA±20% 30mW 测量特性 集电J电流 　 Z大设置功率 垂直量程（按1-2-5步进） 3kW 1A/div至50A/div 300W 500mA/div至5A/div 30W 100μA/div至5mA/div 3W,300mW 10μA/div至500μA/div 30mW 1μA/div 至50μA/div 测试夹具 设计的夹具容易与许多器件相连接，有安全的防护以确保操作者的安全。提供专用设备连接电缆以供与大型器件连接。