美国原装半导体分析仪HP/惠普4155A半导体参数分析仪

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HP4155B详细说明：

HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室，HP4145B是电子工业中***个可以独立对半

导体器件和材料进行直流参数的仪器。HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压并将

测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。

主要特点及优点：

在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率

可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作

内置的“源存储器”可编程序列发生器***多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要

高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性

内置的比较器简化了pass/fail测试

数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手

0.012%的***度，5?的分辨率

***售惠普HP4155A HP4155B半导体参数分析仪

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此美国原装半导体分析仪HP/惠普4155A半导体参数分析仪产品由深圳市科中科仪器有限公司在2021-07-14T11:40:19更新，主要更新内容为：产品价格,产品图片,产品详情,产品促销语,产品起订价信息。

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