高精度相位差轴角度测量仪。该设备
可解析多层相位差,是对吸收轴角度、
快慢轴角度、相位差、偏光度、色度
及透过率等进行高精密测量;是结合
偏光解析和一般光学特性分析于一体
的设备;并提供不同型号,供客户进
行选配
设备主要运用于偏光片盖板玻璃双折射材料离型膜 补偿膜其他光学






发送询价单
您对该公司的咨询信息已成功提交,请注意接听供应商电话。
联系人信息
请输入您的称呼
请输入正确的联系方式
请选择咨询问题
请输入正确的图形验证码
商家已收到您的消息,请注意接听供应商的来电~
确保商家能在第一时间与您取得联系
请留下您的联系方式
请输入正确的联系电话
请输入称呼或公司名称
换一张
请输入验证码