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¥6350英国Elcometer 157涂层测厚仪
加工定制 : |
否 |
类型 : |
测厚仪 |
品牌 : |
卡尔德意志 |
型号 : |
LEPTOSKOP2042 |
测量范围 : |
0 - 20000 um (取决于探头) |
电源电压 : |
电池、充电电池、USB或外接电源 |
可售地 : |
全国 |
测量速度 : |
每秒测量2个数值 |
产品简介:
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有的测量技术和简单的操作方法,是的涂层测厚仪。通过解锁代码,可以使仪器在现场的升级。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪利用磁感应法(DIN EN 000 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN 000 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。
仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合,同时提供10种可供任意选择的语言,以满足客户的各种需求。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品,电池寿命长,可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量,因此一些重要的参数可以被保存。
彩色的橡胶皮套也是在供货范围内,可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。
产品特点:
◆ 大图解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景灯
◆ 校准选项
◆ 出厂时已校准,立即可用
◆ 在未知涂层上校准*
◆ 校准*
◆ 在无涂层的基体上一点和多点校准*
◆ 在有涂层的基体上校准*
◆ 校准数据可以别单、存储在、立的校准档案中,也可以调出
◆ 可选择的显示模式,以新佳形式去完成测量任务*
◆ 输入和、限监视*
◆ 在Windows下有简单的存储读数档案管理*
◆ 可用的电脑软件STATWIN 2002 和EasyExport
◆ 统计*
◆ 可统计评估999个读数
◆ 新小值、新大值、测量个数、标准偏差和、限监视
◆ 局部厚度和平局膜层厚度(DIN EN 000 2808)
◆ 在线统计,所有统计值概括
3种配置级别以的完成测量任务
基本型 – 证明质量的基本特征
型 - 附加统计评估
专业型 - 统计评估和数据存储
如果针对新的测量要求,而需要仪器增加新的功能,可以在时候把仪器升级为型和/或专业型。升级。需在现场输入解锁代码,“统计”和/或“统计& 数据存储”,便可完成;而不需要把仪器反厂或重新购买新机器。
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪多探头选择:
多样的外部探头使LEPTOSKOP 2042在困难的条件下,更容易地测量复杂几何图形上的特殊涂层厚度。涂层厚度是20mm也是可以的。
技术参数:
◆ 数据传输接口RS232 或 USB
◆ 电源:电池、充电电池、USB或外接电源
◆ 测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
◆ 测量速度: 每秒测量2个数值
◆ 存储: 新多 9999 个数值,140个文件
◆ 误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um
LEPTOSKOP2042涂层测厚仪附件:
试块和膜片
探头定位装置 (适用于微型探头)
定位辅助装置 (适用于微型探头)
电脑软件 STATWIN 2002 用于数据传输和对整个目录结构的便捷管理
电脑软件 EasyExport 用于把单、的读数或全部文件传输到Windows

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