ZJD-C型介电常数及介质损耗测试仪

一、概述：
    ZJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为zui新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内最高的160MHz.ZJD-C介电常数测试仪采用了多项ling先技术。
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
二、主要技术特性：
*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ
*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数
3．Q值测量范围：1～1023
4．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；
*5．电感测量范围：1nH～140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能
*6．电容直接测量范围：1pF～25nF                                      
7．主电容调节范围： 17～240pF                                        
8．准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%
9．信号源频率覆盖范围100kHz～160MHz
10．合格指示预置功能范围：5～1000
11．环境温度：0℃～+40℃；
12．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
13. S916（数显）介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置：
数显式微杆，平板电容器：
极片尺寸： 38mm
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm
测试极片：材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm
*液体杯：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm
14. 电感组LKI-1：
分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置：
主机    一台
电感    九支
夹具    一套
液体杯  一套
随机文件一套

依次为：主机、夹具、电感、液体杯。

    ZJD-C型介电常数及介质损耗测试仪是北京航天纵横检测仪器有限公司*研制生产的产品，自该产品实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产品存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。但近期我公司发现，一些没有研发能力的不良公司，盗版了我公司早期产品的软件，仿制假mao我公司的产品进行销售，给不了解情况的客户将带来损失。因为这些产品的软件存在不足之处，（如在主电容调节至80pf左右时，电容指示值会出现跳变，出现180pf左右的指示值；在介质损耗测试时，当材料的损耗较大时，介质损耗值会出现错误。）但又无法得到升级完善，产品没有新增的功能。因此请广大用户注意识别。