ZJD-C型介质损耗测试仪产品介绍
 
一、优势简介：
   ZJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到160MHz。
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
二、符合标准：
ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；
GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；
介电常数介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、ZJD-C主机、数据采集和tanδ自动测量控件（装入ZJD-C的软件模块)、及LKI-1型电感器组成。依据国标GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的最佳解决方案。本仪器中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。ZJD-C主机具有自动计算介电常数（ε）和介质损耗（tanδ）。
 
ZJD-C介电常数/介质损耗测试系统系统组成：

1.   ZJD-C主机

2.   S916（数显）介电常数ε_r和介质损耗因数tanδ测试装置：

固体：材料测量直径 Φ38mm 可选；厚度可调 ≥ 15mm  

液体：测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm

3.   LKI-1电感组

4 介电常数和介质损耗界面显示