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真空镀膜,膜厚控制仪本仪器是相位锁定放大器,用于光学镀膜膜层厚度测量和控制。它由主信号通道,参考信号通道和先进的四阶低Q滤波技术组成,有很强的谐波抑制能力和动态储备,能测量深埋于噪声或直流漂移中微弱的信号幅度和相位。采用进品高精密元件制作和DAAS是数字频谱分析系统测试,确保仪器具有可靠的质量和优越的性能。高稳定性。操作简便,实用性强技术参数:GM-X03主信号通道:电压单端输入满程灵敏度:0.5mV~500mV频率范围:1KHz,±5%锁相噪声:≦4nV线性误差:≦1%零点漂移:0.2%(小时)参考信号通道:电压单端输入输入幅度:20mV~700mV频率范围:1KHz,±5%相位锁定范围:≧320°电源电压:220VAC/50Hz外形尺寸:宽482x高89x深322(mm)/标准2U面板净重:7.5Kg
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