高性价比的原子力显微镜帕克

帕克 XE7高性价比的研究级AFM

帕克 XE7创新研究的经济之选

帕克 XE7配有帕克 Systems的所有顶Jian技术，而且价格十分亲民。XE7在细节的设计.上也相当用心，是帮助您准确且不超预算地完成研究的理想之选。

 的高性能在同级产品中，帕克XE7能够带来zui高纳米级分辨率的测量效果。得益于独特的原子力显微镜架构，即独立的XY轴和Z轴柔性扫描器，XE7能够实现平滑、正交且线性的扫描测量，从而精确成像和测量样品的特征。此外，帕克所独有的True Non-ContactT模式还能为您带来前所未You的图像效果，探针可以在多次扫描后图像的分辨率仍不会受影响。

满足当前和未来需求

在帕克 XE7的帮助下，现在与未来皆在您的掌控中。帕克 XE7带有业内zui全面的测量模式。这些模式不仅能满足您目前的需求，也考虑到未来不断变化的需求。再者，XE7具有市场，上zui为开放性的设计，允许您整合其他附件和仪器，从而满足您特殊的研究需求。

易于使用和高生产率

帕克 XE7拥有简洁的图形用户界面和自动化工具，即便是初学者也可以快速地完成对样品的扫描。无论是预准直探针、简单的样品和探针更换、轻松的激光准直、自上而下的同轴视角以及用户友好型扫描控制和软件处理，XE7能够全力推动研究效率的提高。

经济实惠 了系统成本

帕克XE7不仅仅是zui高性价比的研究级原子力显微镜，也是使用成本zui低的原子力显微镜。

帕克 XE7中所搭载的True Non-ContactT模式让用户无需频繁更换昂贵的探针jian端，并且它配有业内zui多的扫描模式，兼容性Ji佳，让您可随时升级系统功能，从而延长产品的使用寿命。

帕克 XE7满足先进研究的创新功能

精确的XY方向扫描,彻底消除了交叉耦合误差

样品探针和针尖的两种独立闭环XY和Z平板式扫描

平板式和线性XY扫描，残余弯曲误差极小

整个扫描范围内的水平线性误差小于2nm

精确的高度测量

Non-ContactTM (真正非接触")模式能够延长针尖寿命,

提供高分辨率及保护样品。

其Z伺服速度是压电管基础系统的10倍

非接触式可降低针尖磨损、延长使用寿命

成像分辨率优于同类原子力显微镜

增强样品兼容性,提高扫描精度

zui丰富的功能拓展方案

支持多种SPM模式

多种可选配测量模式

.多种可选配件及更新,扩展性能优越

zui为便利的使用设计

开放式样品空间,提高样品及针尖更换效率

预对准针尖安装和同轴直视光路直观地实现激光对准

燕尾锁方便镜头拆卸

帕克 XE7 AFM技术

无扫描器弓形弯曲的平直正交XY轴扫描

帕克的串扰消除技术不仅改善了扫描器弓形弯曲的缺点还能够在各种不同扫描位置,扫描速率和扫描尺寸条件下进行平直正交的XY轴扫描。即使是zui平坦的样品也不会出现如光学平面,各种偏移扫描等曲率的背景。

由此可以为您在研究中遇到的所有Ji具挑战性的问题提供高精确度的纳米测量。

无耦合关系的XY和Z扫描器帕克和竞争对手zui根本的区别在于扫描器的构造, 帕克独特又独立的XY轴与Z轴扫描器设计使其达到了 的高精度纳米分辨率数据。

真正非接触模式”可保护针尖锋利度

原子力.显微镜的针尖本身很脆弱，与样品接触时会逐渐降低图片质量和分辨率。测量表面柔软的样品时,针尖也会破坏样品并生成不准确的样品高度测量数据。

作为帕克原子力显微镜zui独特的一种扫描模式,真正非接触模式”可持续生成高分辨率且精确的数据从而保持样品的完整性。