布鲁克Bruker原veeco 高端AFMFastscan

Dimension FastScan——世界上扫描速度 快的原子力显微镜

扫描速度的全新诠释，拥有 高的扫描分辨率， 优异的仪器检测性能

  Dimension FastScanTM原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension  Icon 超高的分辨率和 的仪器性能前提下， 大限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

  为满足AFM使用者对提高AFM使用效率的需求，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨力，不增加设备复杂性，不影响仪器操作成本的前提下，帮助用户实现了利Dimension快速扫描系统，即时快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，无论设置实验参数为扫描速度> 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得1张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一变革性的技术创新重新定义了AFM仪器的操作和功能。

  率   

在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节    和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。

自动测量软件和高速扫描系统 结合，大幅提高了实验数据  的可信度和可重复性。

     高分辨率     

Fastscan精确的力控制模式提高图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。

扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。

低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。

在任何样品上均有 表现

闭环控制的Icon和FastScan的扫描管极大地降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到超高分辨的真实图像。

Fast Scan可以对不同样品进行测量，保证高度从埃级到100多纳米的样品高精度无失真扫描。

Dimension Fastscan是世界上 台将扫描速度、分辨率、精确度和噪音控制 结合的AFM，真正实现了快速扫描原子力显微镜的商业化应用。为了实现AFM扫描速度变革性的提升，Bruker的工程师致力于AFM技术的改造和完善。

■采用 低热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。

■应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。

■开发了小悬臂的生产工艺，在空气 振频率为1.3MHz，在液体 振频率为250KHz到500KHz。

■采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。

■更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。

■以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。

■在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。

■Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差<1%，真正使Fastscan成为了世界上 台快速扫描AFM。

■ 自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。

■ 系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。

 新的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到 好的激光信号调节。

■ 针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了 低的噪音和热漂移水平。

    AFM 性能

    Dimension FastScan AFM 的分辨率，与Bruker特有的电子扫描计算方法相结合，提供给用户显著提升的测量速度与质量。Dimension Icon是我们工业 的针尖扫描技术的 新革新，配置了温度补偿位置传感器，展现出Z轴亚埃级范围和XY轴埃级范围的噪音水平，这个惊人的性能出现在大样品台，34微米和90微米的扫描范围的系统上，尤胜高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ闭环扫描头的新设计也能展现较高扫描速度，而不损坏图像质量，实现更大的数据采集输出量。Icon 扫描管比当今市场上任何一款大样品台AFM具有更低的噪音水平和更高的精确度。这种革新与新的专利扫描和下针算法相结合，即使是在难测量的样品上也能得到更高的图像保真效果。

   杰出的生产力

    使用Dimension系列原子力显微镜发表的文章远比其他大样品台原子力显微镜要多。在科研和工业生产的过程研究中已成为一个标志性的符号。FastScan把此平台引入了更 的新水平，展现出更高的性能和更快地获得测量结果。其软件的直观工作流程，使其操作过程比以往 先进的AFM技术更加简便。可以使初学者在操作中，同样得到专家级的图像。Dimension FastScan用户可以立即获得高质量的结果，而无需像以前一样通常需要几小时的专业调整。Dimension FastScan的每个方面—从完全开放式针尖样品空间，到预存软件参数设置—都经过特殊设计以求达到无障碍操作和惊人的AFM操作简易性。每分钟低于200pm的热漂移速率，全新的直观用户界面，世界闻名的Dimension AFM平台，三者结合提供了 的AFM仪器性能，保证您在 短时间内得到测试结果并发表出版。

    世界上 灵活的平台 

    Dimension FastScan 展现出的 的性能，坚固性和灵活度，使得这台仪器实现了以前只有在特制的系统中才能完成的所有测量。利用开放式平台，大型多元样品支架和许多简单易用的性能，将AFM强大的功能完全展现在科研领域和工业领域的研究者面前，为高质量AFM 成像和纳米研究设定了新的标准。Dimension 系列原子力显微镜在不断演变提升，以迎合您不断增长的研究需求。Dimension FastScan 支持AFM 的所有模式和力学、电学和电化学附件。

    的性能和多种附加模块满足您的一切科研需要

    出众的性能满足各种应用需求

    Dimension FastScan可同时高速捕捉多个通道的数据，获得更多通道的高质量数据。结合我们Bruker的很多AFM专利技术，模式和模式增强功能，Dimension FastScan以其独特的性能优势，帮助您完成更高水平的纳米研究。

    材料成像 

     FastScan在使用ICON的扫描管的情况下支持Bruker的专利PeakForce QNMTM成像模式，在使用快速扫描扫描

管的情况下可进行纳米力学成像。使用FastScan技术，大大减少了研究者获得高分辨率形貌和纳米力学图谱的时间。

    纳米操纵 

    可实现在纳米和分子级别的纳米操纵和刻蚀。FastScan的XYZ闭环扫描器解决了扫描管的蠕变效应，大大提高了操纵的精确度。同时超低噪音的精密探针的准确定位，适用于任何纳米操作系统。

    加热和冷却 

    在以各种AFM 模式扫描的同时可实现-35℃到250℃的温度的精确控制和热分析。另外还可使用热探针对低于100nm的局部加热到500℃。

    电学表征 

    使用专利的模式，可以在更高的灵敏度和更大的动态范围上实现电学表征。PeakForce TUNA™和PeakForce SSRM提供了独特的电学表征方法，同时还可以与样品上的力学属性相联系。

    利用 短时间获得高质量可发表数据结果

    无论是作为科研交流还是发表科学文章，Dimension FastScan可比以前快几十倍至上百倍获得专业精确的数据测量和高质量AFM图片。真正的快速扫描AFM系统使您能够运用简易方法对大量数据进行快速准确的处理分析。

    样品筛选

    利用AFM系统获取大量样品信，进行样品常规筛选。无论是材料生产中进行失效分析或纳米级的质量控制，及时的产品信息反馈是必不可少的产品质量控制过程。纳米表征面临提高表征速度的挑战时，高精准度成为必备条件。在获取 配方的过程中需要大量的数据对其中的非晶 成分进行筛选，这可能成为FastScan的一个新用途。

    动态应用范例

     另一种常见的应用是观察一个纳米级物体在外部条件变化或受刺激的情况下，随着时间产生变化的过程。无论是在空气中还是在液体中，对纳米尺度的动态变化观察都是 研究价值的。Dimesion FastScan为这种实验提供了极为便利的条件。