ED400 测厚仪 涂层检测仪 薄膜测厚仪

                                       ED400型 涡流测厚仪

       ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能显著提高。

      仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
      仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速、无损的膜厚检查， 可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。
      仪器符合国家标准GB/T4957-2003 《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流法》。

      天星涡流测厚仪自1993年开始生产以来，伴随着我国铝加工行业的成长，其自身也在不断改进和提高，目前，已生产了ED200型、ED300型和ED400型三代产品， ED400型涡流测厚仪是一代产品，其产品质量和测试精度达到国外仪器水平，其耐用性非常突出，超过国内外仪器。天星测厚仪以良好的质量，及时、优质、低费用的售后服务得到用户的广泛赞誉和认可，天星测厚仪在铝型材行业的市场占有率超过90%，成为该行业的产品。

仪器特点

 ED400型涡流测厚仪与ED300型相比，具有如下特点：

﹡ 量程宽   ED400型涡流测厚仪量程达到0～500μm。

﹡ 精度高   测量精度达到2%。
﹡ 分辨率高   分辨率达到0.1μm。
﹡ 校正简便   只校正“0”和“50μm”两点，即可在全量程范围内保证设计精度。
﹡ 基体导电率影响小   基体材料从纯铝变化到各种铝合金、紫铜、黄铜时，测量误差不大于1～2μm。
﹡ 可靠性提高   采用高集成度、高稳定性电子器件，电路结构优化，仪器可靠性提高。
﹡ 稳定性提高   采用先进的温度补偿技术，测量值随环境温度的变化很小。仪器校正一次可在生产现场长期使用。
﹡ 探头芯寿命长   采用高强度磁芯材料，微调了探头设计，探头芯寿命可大大延长。

技术参数

测量范围：     0～500μm
测量精度：     0～50μm：±1μm；
                    50～500μm：±2%
分 辨 率：      0～50μm：0.1μm；
                    50～500μm：1μm；
                    0～500μm：1μm（可选）
使用温度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     280g