ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。
而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描（CT）
利用蔡司的工业计算机断层扫描系统，仅需一次 X 射线扫描，即可顺利完成工件的测量和检验。标准的验收检测、精密工程和完善的校准程序可确保系统的追踪性。配备线性导轨及转台，满足客户对精度的高要求。
应用范围
ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
融合了计量学和断层X射线摄影，测量技术的新革命！
仪器参数/仪器型号 | METROTOM 800 | METROTOM 1500 | |
测量范围（mm） | 直径150*170 | 直径170*150 | 直径350*300 |
分辨率（μm） | 3.5-6 | ||
射线管类型 | 密闭式微焦点射线管 | 开放式X射线技术 | |
射线管，管功率 | 130Kv，39W | 225Kv，500W | |
探测器分辨率 | 1536*1920 | 1024*1024 | 2048*2048 |
放射源-探测器距离（mm） | 800 | 800 | 1500 |
软件 | CALYPSO | ||
壳体材料 | 聚合物混凝土 | 铅 | |
用途 | 测量实验室 | ||
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