品牌 : |
武汉格莱莫 |
型号 : |
GLM-BMZL |
加工定制 : |
是 |
类型 : |
组合式粗糙度仪 |
测量范围 : |
60---1000mm |
测量参数 : |
60---1000mm |
取样长度 : |
1000 |
评定长度 : |
1000 |
扫描长度 : |
1000 |
电源 : |
220 |
重量 : |
40kg |
外型尺寸 : |
1100*1000*1000 |
陶瓷砖表面质量检测仪、陶瓷砖平整度直角度边直度综合测定仪
陶瓷砖平整度直角度边直度表面质量综合测定仪
一、概述
该仪器适用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器,其所测参数包括面砖的边直度、直角度、边长度、平整度( 弯曲度、边弯曲度、翘曲度)等几项指标。本产品符合GB/T3810.2-2016以及ISO 10545-2-1995陶瓷砖-尺寸和表面质量的检验的要求。
二、主要技术参数
1、测量精度:±0.1mm
2、测量范围:60×60600×600 ,60×60800×800,60×601000×1000mm用户自选;
3、标准板客户选购(选购件)
4、根据用户要求可选用数显表、微型打印,也可采用计算机处理系统。
三、原理及结构
本仪器由支承平板、可移动的左支座和右支座组成一个直角坐标系。在平板上有三个等高支承销与陶瓷面砖类似外形和具有理想尺寸的标准板进行探测,并将仪表值调整至适当位置,并记下该示值。然后,以被测陶瓷面砖取代标准板,在不移动测量点的情况下,分别测出六项指标参数。左、右支座及 测量支座可在平板上作平行移动,组成不同位置的空间座标,以适应不同规格尺寸陶瓷面砖的测定。
边直度、直角度、边长度、平整度( 弯曲度、边弯曲度、翘曲度)
陶瓷砖平整度直角度边直度表面质量综合测定仪
陶瓷砖综合测定仪、陶瓷砖尺寸及表面质量检测仪
一、概述
该仪器适用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器,其所测参数包括面砖的边直度、直角度、边长度、平整度( 弯曲度、边弯曲度、翘曲度)等几项指标,在测定时一次置放便可迅速、准确的测出以上六种数据。本产品符合:GB/T3810.2-2016,ISO 10545-2-1995 陶瓷砖试验方法第2部分:尺寸和表面质量的检验的要求,EN98-84/BS6431 陶瓷地面和墙面砖尺寸及表面质量检验方法,ASTM 85-83 瓷砖翘曲度的测量方法。
二、主要技术参数
1、测量精度:±0.1mm
2、测量范围:
ZCY-II-400: 100×100400×400 mm可调,
ZCY-II-600: 100×100600×600 mm可调,
ZCY-II-800: 100×100800×800 mm可调;
ZCY-II-1000: 100×1001000×1000 mm可调。
3、标准板客户选购(选购件)
4、根据用户要求可选用数显表。(选购件)
三、原理及结构
本仪器由支承平板、可移动的左支座和右支座组成一个直角坐标系。在平板上有三个等高支承销与陶瓷面砖类似外形和具有理想尺寸的标准板进行探测,并将仪表值调整至适当位置,并记下该示值。然后,以被测陶瓷面砖取代标准板,在不移动测量点的情况下,分别测出六项指标参数。左、右支座及 测量支座可在平板上作平行移动,组成不同位置的空间座标,以适应不同规格尺寸陶瓷面砖的测定。
陶瓷砖平整度测定仪(简易式)
一、概述
该仪器适用于测定各种墙面砖、地面砖、平板材料的平整度( 弯曲度、边弯曲度、翘曲度)、边直度指标。
二、主要技术参数
1、测量精度:±0.1mm
2、测量范围:60×60600×600 ,60×60800×800,60×601000×1000mm用户自选
三、产品组成:
测试架1个,
标准底板1块,
百分表1个。
CHD型陶瓷砖厚度测量仪
概述
CHD型陶瓷砖厚度测量仪(以下简称测厚仪)是用于测量普通量具无法测量的大尺寸陶瓷砖厚度的仪器,也可用于测量其它材料(如大理石板材、石膏板材等)产品厚度的测量。该测厚仪采用百分表进行测量,具有精度高、读数准确、操作简便、携带方便等优点,是有关生产厂家与质检单位的良好仪器。
主要技术参数
1.测厚仪的精度:±0.1mm
2.测厚仪的测量范围:600×600 mm 、 1000×1000mm
3、 测量厚度:18 mm、25 mm,
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