牛津仪器X-Strata920 X荧光镀层测厚仪

台式XRF镀层测厚仪 X-Strata920

品牌：Oxford Instruments牛津仪器  

型号：X-Strata920 

奔蓝科技（昆山）有限公司专业代理英国Oxford Instruments牛津仪器X-Strata920 X射线荧光镀层厚度测量仪(X-ray Fluorescence Measurement System)及配件！我司集销售、安装、维护、维修及培训一体化服务！

X-Strata920膜厚仪：是牛津仪器新开发的新一代镀层膜厚仪，是X-Strata920膜厚仪的升级产品，将逐渐取代膜厚仪CMI900，是X射线荧光(XRF)镀层膜厚仪，无损测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，快速简洁只需要10秒即可得出测量结果，是质量控制、节约成本的 检测工具。

X-Strata920膜厚仪利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。

X-Strata920镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。

在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出 的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。

镀层测厚仪X-Strata系列提供：

无损分析：无需样品制备

经行业认证的技术和可靠性，确保每年都带来收益

操作简单，只需要简单的培训

分析只需三步骤

杰出的分析准确性和精确性

在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验

镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。

X-Strata920镀层测厚仪的优势：

一、高性能、高精度、长期稳定性

快速精确的分析带来生产成本 化

精确测定元素厚度

优化的性能可满足广泛的元素测量

二、坚固耐用的设计

可靠近生产线或在实验室操作

生产人员易于使用

三、简单的校准调试

在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果

方法建立只需几分钟

我们提供认证标准片以确保 精确度（A2LA 和 ISO/IEC17025）

预置了多种校准参数

四、可分析多种样品形状和尺寸

可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件

提供多种硬件供选配，满足各种需要

X-Strata920 – 性价比高，无损可靠

操作简单的质量控制分析仪，满足镀层厚度测量和材料分析。

1、新型号设计

2、快速分析（几秒）1-4层镀层厚度

3、多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台，满足所有样品类型

4、开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等

5、符合ISO3487和ASTM B568检测方法

十多年来，奔蓝科技一直服务于PCB 厂商、五金电镀、连接器、LCD、科研机构、高校、质量检测中心、半导体、微电子、光电子、光通讯等领域。我们提供高质量的产品和 质的服务都得到客户 高的奖励，在未来,我们将继续履行客户的期望、要求和需要。

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