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加工定制 : |
否 |
品牌 : |
布鲁克 |
型号 : |
SITIAN 300型 |
类型 : |
金属元素分析仪器 |
测试范围 : |
ppm级至50%以上 |
测量时间 : |
见说明 |
测量精度 : |
见说明 |
电源电压 : |
110/220V,50/60HzV\HZ |
适用范围 : |
分析元素 小从Mg开始,达40多种。 |
产地 : |
德国 |
是否进口 : |
否 |
订货号 : |
C20 |
货号 : |
4332343R |
是否跨境货源 : |
否 |
产品详情
Product details





主要特性:
简体中文界面
Windows Mobile5.0操作系统
开机后不需校准就可直接测量
采用布鲁克专利技术的XFlash®SDD检测器
分析元素 小从Mg开始,达40多种。
分析范围:ppm级至50以上
实时分析数据和图谱显示
XRF软件具有定性、定量分析功能,控制光管的电压和电流,使测量范围更广
测量完全无损,不受样品形状限制
仪器自动校准,自动存储测量数据,无需人工干预
主机一体化设计,高强度密封,防水、防尘,抗冲击
可选择一键式定时测量
内置Bruker专业操作软件,计算和显示速度快
仪器适应高温,低温,潮湿,雨天、沙尘等恶劣环境
在开机状态下长时间不测量时,仪器会自动进入待机状态,以节省电源和保护仪器
X射线管耐用性强,采用Peltier半导体恒温制冷技术更增加了使用寿命
选配GPS定位系统,可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图
FP模式,大大缩短现场工作时间。自动补偿元素间干扰。

野外操作时,自由携带,非常方便
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技术规格
重量 |
1.5kg |
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| 尺寸 | 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) | ||||||||||||||||||
| 激发源 | X射线管,Ag靶,40kV | ||||||||||||||||||
| 检测器 | XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快; 能量分辨率高:145eV, 计数率:250kcps |
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| 冷却系统 | Peltier半导体冷却系统 | ||||||||||||||||||
| 电源 | 交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时 | ||||||||||||||||||
| 工作条件 | 温度:-20+55 湿度:095
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