C84-III反射率测定仪工作原理与使用方法快讯

2021-08-03 13:53:27    


产品简介:

C84-III反射率测定仪是涂层检测仪器,可用于漆膜遮盖力的测定。

全符合国际标准ISO3906-1980(E)、**标准GB/T13452.3-92、GB9270-88、GB5211.17-88对该仪器的规定要求。


技术参数:
测量范围   0~100
重复精度    0.3%
显示数据与反射光强度成正比
仪器的光普灵敏度近似等于Sc与Y的乘积
环境温度   20°±5°  相对湿度<85%
输入电源   220V±10%  50Hz
外形尺寸:180X210X470mm
重量:7kg

工作原理:
本仪器由探头、主体、标准板(黑白各一块)、工作陶瓷板(黑白各两块)等组成。 
探头采用照射,漫反射接收的原理。当试样的反射光作用于硒光电池表面产生电讯号输入到直流放大器进行放大,并予以读数显示(详见光路原理图及仪器框图)。


使用方法:
把探头与电控箱连接,同时接上电源,开机预热10-15分钟。此时应把探头放在黑色标准板上为佳。
校零:把探头放在白色标准板上,调整主机上的校零旋钮,使主机数字显示为000.0,允许变动±0.1.
校正标准值:把探头放在白色标准板上,调整主机的校标旋钮,使主机显示的数值与白色标准板的标定一致。允许变动±0.1反复调整一次(校零、校标)。
测量RB值:把探头移至放有试样的黑色工作陶瓷板上,显示器所显示的数值即为RB值。
测量RW值:把探头移至放有试样的白色工作陶瓷板上,显示器所显示的数值即为RW值。
计算求得对比率  对比率(遮盖率)= RB/RW ×a


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