概述

本系列程序高低温冷热冲击试验箱主要用于测试材料对极高温或极低温的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在 短的时间内完成测试。热震中产生的变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其他物理性值的改变而引起的，采用PID系统，各类产品才能获得完全之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层及位移等所引起的电化学变化，PID系统的全数位元自动控制，将使您操作简易。

冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在 短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

满足的试验方法：GJB150.5-86  温度冲击试验，符合MIL，IEC，JIS规范。

用途：

冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车 配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的元件，可作为其产品改进的依据或参考。

标准：

1.GB-2423.1-89（IEC68-2-1）试验A：低温试验方法。

2.GB-2423.2-89（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。

3.GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高温寿命试验。

4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。

5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。     

6.国军标GJB150.3-86；

7.国军标GJB150.4-86；

8.国军标GJB150.5-86； 

概述

本系列程序高低温冷热冲击试验箱主要用于测试材料对极高温或极低温的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在 短的时间内完成测试。热震中产生的变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其他物理性值的改变而引起的，采用PID系统，各类产品才能获得完全之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层及位移等所引起的电化学变化，PID系统的全数位元自动控制，将使您操作简易。

冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在 短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。分为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

满足的试验方法：GJB150.5-86  温度冲击试验，符合MIL，IEC，JIS规范。

用途：

冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车 配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的元件，可作为其产品改进的依据或参考。

标准：

1.GB-2423.1-89（IEC68-2-1）试验A：低温试验方法。

2.GB-2423.2-89（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。

3.GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高温寿命试验。

4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。

5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。     

6.国军标GJB150.3-86；

7.国军标GJB150.4-86；

8.国军标GJB150.5-86； 

概述

本系列程序高低温冷热冲击试验箱主要用于测试材料对极高温或极低温的抵抗力，这种情况类似于不连续地处于高温或低温中的情形，冷热冲击试验能使各种物品在最短的时间内完成测试。热震中产生的变化或物理伤害是热胀冷缩改变或其他物理性值的改变而引起的，采用PID系统，各类产品才能获得完全之信赖。热震的效果包括成品裂开或破层及位移等所引起的电化学变化，PID系统的全数位元自动控制，将使您操作简易。

冷热冲击试验机是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物 分为两厢式和三厢式，区别在于试验方式和内部结构不同，产品符合标准为：GB/T2423.1-2008试验A 、GB/T2423.2-2008试验B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107温度冲击试验的要求。

满足的试验方法：GJB150.5-86  温度冲击试验，符合MIL，IEC，JIS规范。

用途：

冷热冲击试验箱广泛用于电子电器零元件、自动化零部件、通讯元件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的元件，可作为其产品改进的依据或参考。

标准：

1.GB-2423.1-89（IEC68-2-1）试验A：低温试验方法。

2.GB-2423.2-89（IEC68-2-2）试验B：高温试验方法。

3.GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高温寿命试验。

4.GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。

5.GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。     

6.国军标GJB150.3-86；

7.国军标GJB150.4-86；

8.国军标GJB150.5-86；